Интеллектуальная собственность

Наши авторские права, товарные знаки и патенты

Мы являемся собственником или обладателем лицензии (лицензиатом) на право использования всех объектов интеллектуальной собственности сайта, а также материалов, присутствующих на нем.  Все объекты защищены законом об авторском праве и нормами аналогичных международных соглашений.  Все указанные права принадлежат компании.

Вы вправе распечатать одну копию или загрузить фрагменты любой страницы (страниц) сайта для личных целей; кроме того, не запрещается привлекать внимание лиц, работающих в вашей организации, к материалам сайта.  

Запрещается любым способом видоизменять печатные или цифровые копии любых материалов, распечатанных или загруженных с сайта; запрещается использовать любые иллюстрации, фотографии, видео- или аудиоряды или любые графические объекты отдельно от сопровождающего их текста.

Статус компании (как и любого указанного автора) — как автора материалов сайта — всегда должен быть указан.

Коммерческое использование любой части материалов сайта запрещено, если не получена соответствующая лицензия на право использования от нашей компании или лицензирующего органа нашей компании.

Если вы печатаете, копируете или загружаете любую часть сайта в нарушение настоящих условий использования, ваше право на использование сайта немедленно прекращает действие, и вы обязаны по нашему усмотрению вернуть или безвозвратно уничтожить любые копии полученных вами материалов.

Торговые знаки

Торговый знакСтатус
AERIS®
AERIS PANALYTICAL®
Логотип (ASD Inc)®
Archimedes®
AXIOS®
Bohlin
CHI-BLUE®
Claisse®
CUBIX®
CUBIX3 (супериндекс 3)®
dCore
EAGON®
Eagon 2®
EASY SAXS®
EMPYREAN®
EPSILON®
EPSILON X-FLOW®
EXPERT SAXS®
EASY SAXS®
FieldSpec®
FIPA®
FLUOR’X®
GALIPIX 3D®
Gemini
goLab
HandHeld 2
HIGHSCORE®
Hydrosight
iCore
(Логотип i)®
Indico Pro
Insitec®
(Логотип Insitec)®
(Логотип Insitec Measurement Systems)®
ISys®
LabSizer
LabSpec®
LeNeo®
LeDoser
LeDoser-12
M3 PALS
M4
MADLS®
Malvern®
(Логотип треугольных холмов + Malvern Instruments)®
Malvern китайскими иероглифами®
Malvern Instruments®
Malvern Instruments китайскими иероглифами®
Malvern Link
(Логотип Malvern Plus Hills)®
Mastersizer®
Mastersizer 2000
MC (стилизованный)®
Получение®
Microcal®
Morphologi®
(Логотип треугольных холмов)®
Nanosight®
NIBS
OIL-TRACE®
OMNIAN®
OMNISEC®
PANALYTICAL®
ЛОГОТИП PANALYTICAL (изображение)®
PANTOS®
PEAQ-ITC®
PIXCEL®
PIXCEL 1D®
PIXCEL 3D®
QualitySpec®
(Логотип r)®
(Логотип Realogica)®
Spraytec
SST®
SST-MAX®
SUPER SHARP TUBE®
STRATOS®
SUPER Q®
SyNIRgi®
TerraSpec®
TheOx® Advanced®
Ultrasizer®
VENUS MINILAB®
ViewSpec
Viscogel®
Viscotek®
X’CELERATOR®
XPERT3 (супериндекс 3)®
Zetasizer®
ZETIUM®
ZS Helix®

Патенты

Malvern Panalytical предлагает ряд уникальных флагманских изделий, которые защищены следующими патентами и патентными заявками.

Mastersizer

Номера патентовНазвание патентаОборудование
EP1167946B1 (GB, FR, DE60135521D1)Система загрузки образцовHydro MV, Hydro LV, Hydro EV
GB2364774B
US6800251B2
Система загрузки образцов для использования в аппарате характеризации частицHydro MV, Hydro LV
GB2494735BАппарат для измерения распределения частиц по размерам рассеянием светаMS3000, MS3000E
CN104067105B
EP2756283B1 (GB, FR, DE602012015707.0)
US9869625B2
JP6154812B
Аппарат и метод измерения распределения частиц по размерам рассеянием светаMS3000, MS3000E
US10837889B2
GB2494734B
Аппарат и метод измерения распределения частиц по размерам рассеянием светаMS3000, MS3000E

Zetasizer

Номера патентовНазвание патентаОборудование
US7217350B2
Подвижность и эффекты, возникающие в связи с поверхностным зарядомСерия Zetasizer Advance, Nano ZS, Nano Z, Nano ZS90, Nano ZSP, Helix
EP2467701A1
CN102575984B
US9279765B2
JP5669843B2
US10317339B2
US20200096443A1
Микрореология сложных жидкостей на основе динамического рассеяния света с улучшенным обнаружением режима однократного рассеянияСерия Zetasizer Advance, Nano ZSP, Helix
CN103608671B
CN105891304B
EP2721399B1 (BE, CH+LI, DK, FR, GB, NL, DE602012031338.2, IT502017000050268)
JP06023184B2
US9829525B2
US10274528B2
US20200072888A1
Измерение поверхностного зарядаЯчейка пластины Zeta
US8702942B2
CN103339500B
EP2652490B1 (GB, FR, DE602011046775.1)
JP06006231B2
JP06453285B2
US10648945B2
Лазерный доплеровский электрофорез с использованием диффузионного барьераСерия Zetasizer Advance, Nano ZS, Nano S, Nano ZS90, S90, Nano ZSP
EP2742337B1 (GB, FR, DE602012018122.2)
US9816922B2
Двухрежимная характеризация твердых частицZetasizer Helix
US10197485B2
US10520412B2
US10845287B2
EP3353527A1
JP2018535429A
CN108291861A
Характеризация частицСерия Zetasizer Advance
US10119910B2Прибор для характеризации частицZetasizer Advance: Ultra и Pro
US8675197B2
JP6059872B2
EP2404157B1
Характеризация частицПринадлежность Zetasizer Advance
EP3521806A1
US20210063295A1
CN111684261A
WO2019154882A1
Многоугловое динамическое рассеяниеZetasizer Advance: Ultra

Insitec

Номера патентовНазвание патентаОборудование
US7418881B2
EP1592957B1 (GB)
Система и метод разбавленияInsitec (некоторая продукция)
US7871194B2
EP1869429A2
Система и метод разбавленияInsitec (некоторая продукция)
EP2640499B1 (GB)Проточный диспергатор и метод смешивания порошковInsitec — анализ сухих потоков

Morphologi

Номера патентовНазвание патентаОборудование
EP2106536B1 (GB, FR, DE602008039489.1)
US8111395B2
US8564774B2
Спектрометрическое исследование неоднородностиMorphologi G3-ID
GB2522735B
JP6560849B2
Метод и аппарат для диспергирования порошковMorphologi G3-ID, Morphologi G3

Viscosizer

Номера патентовНазвание патентаОборудование
US2018067901A1
JP2018511129A
EP3274864A1
CN107430593A
Параметризация многокомпонентной моделиViscosizer TD

Hydro Sight

Номера патентовНазвание патентаОборудование
US8456633B2Спектрометрический мониторинг процессаHydro Sight
CN104704343B
EP2864760A2
US10509976B2
Характеризация образцов неоднородной жидкостиHydro Sight

NanoSight

Номера патентовНазвание патентаОборудование
US7751053B2
JP04002577B2
EP1499871B1 (FR, DE60335872.1)
GB2388189B
US7399600B2
Оптическое обнаружение для анализа частицNanoSight NS300
NanoSight NS500
NanoSight LM10
EP3071944B1 (GB, FR, DE602014059002.0)
US9909970B2
JP6505101B2
CN105765364A
Улучшения калибровки инструментов или связанные с калибровкойNanoSight NS300

MicroCal ITC

Номера патентовНазвание патентаОборудование
CN101855541B
EP2208057A1
JP05542678B2
US8449175C1
US8827549C1
Изотермический титрационный микрокалориметр и метод примененияСерия MicroCal ITC
CN102232184B
EP2352993B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009044685.1)
JP5476394B2
US9103782B2
US9404876B2
US10036715B2
US10254239B2
EP3144666B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009059932.1)
US20200025698A1
EP3647776A1
Автоматический изотермический титрационный микрокалориметр и метод примененияСерия MicroCal ITC

MicroCal DSC

Номера патентовНазвание патентаОборудование
US8635045B2
CN103221808B
EP2646811A1
IN336472
JP5925798B2
Метод автоматического поиска пиков в калориметрических данныхСерия MicroCal DSC

OMNISEC

Номера патентовНазвание патентаОборудование
US9759644B2
US10551291B2
Сбалансированный капиллярный вискозиметр с мостомOMNISEC
US9612183B2
EP2619543B1 (GB, FR, DE602011011174.4)
JP05916734B2
CN103168223B
IN341558
Модульный капиллярный вискозиметр с мостомOMNISEC

Напольный XRF

Номера патентовНазвание патентаОборудование
US8210000B2
JP5554163B2
CN101941789B
EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1)
Печь для сплавленного стеклаZetium
Axios FAST
Epsilon5
US6823043B2Определение параметров материала
Zetium*
Axios FAST*
2830 ZT (анализатор пластин)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US7949092B2
Устройство и способ проведения рентгеновского анализа
Zetium*
Axios FAST*
2830 ZT (анализатор пластин)*
Epsilon5*
SEMYOS
US6574305B2
Устройство и метод проверки состояния образцаZetium*
Axios FAST*
2830 ZT (анализатор пластин)*
Epsilon5*
SEMYOS*
JP4111336B2Устройство для проверки образца с помощью рентгеновского излучения
Epsilon5

US7042978B2Исследование образцов материаловZetium*
Axios FAST*
Epsilon5
SEMYOS*
JP5782451B2
EP2510397B1 (GB, FR, NL, DE602010021859.7)
Метод изготовления многослойной структуры с продольным рисунком для применения в диапазоне длин волн xuv, а также структур bf и Imag, изготовленных по этому методуZetium*
Axios FAST
2830 ZT (анализатор пластин)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US9658352B2
CN104833557B
JP656263B2
JP6804594B2
Метод изготовления эталонаZetium
Axios FAST
EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2
Приготовление гранулированных образцов путем прессованияZetium
Axios FAST
US10107551B2
EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2)
JP6559486B2
CN105258987B
Подготовка образцов для XRF с использованием флюса и платинового тигляZetium
Axios FAST
US9784699B2
JP6861469B2
CN105937890B
EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE)
Количественный рентгеновский анализ — коррекция толщины матрицыZetium*
Axios FAST
US9739730B2
JP6706932B2
CN105938113B
EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE)
Количественный рентгеновский анализ — прибор с несколькими оптическими схемамиZetium*
Axios FAST
US9851313B2
JP6762734B2
CN105938112B 
EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9)
Количественный рентгеновский анализ — коррекция соотношенияZetium*
Axios FAST
JP3936912B2Емкость для образцов с плавающей крышкой для рентгеновского анализа жидкостейZetium
Axios FAST
2830 ZT (анализатор пластин)
Epsilon5
SEMYOS
US9239305B2Держатель образцаZetium*
Axios FAST*
Epsilon5
US7978820B2
Рентгеновская дифракция и флуоресценцияZetium
Axios FAST*
2830 ZT (анализатор пластин)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US7720192B2
JP5574575B2
CN101311708B
Рентгенофлуоресцентный аппаратZetium*
Axios FAST*
2830 ZT (анализатор пластин)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US7194067B2
Рентгеновская оптическая системаZetium
Axios FAST*
2830 ZT (анализатор пластин)*
Epsilon5*
SEMYOS*
US8223923B2
JP5266310B2
CN101720491B
EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1)
Источник рентгеновского излучения с металлическим проволочным катодомZetium
Axios FAST
2830 ZT (анализатор пластин)
Epsilon5
SEMYOS
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
Расположение анода рентгеновской трубки
Zetium
Axios FAST
2830 ZT (анализатор пластин)
Epsilon5
SEMYOS
US10281414B2
EP3330701B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602017006751.2)
EP3480587A1
US10393683B2
JP6767961B2
CN108132267A
Конический коллиматор для измерений рентгеновского излученияZetium*
*· Дополнительно / не входит в стандартную комплектацию

Benchtops XRF

Номера патентовНазвание патентаОборудование
US8210000B2
JP5554163B2
CN101941789B
EP2270410B1 (GB, FR, NL, DE602009003389.1)
Печь для сплавленного стеклаСерия Epsilon 1
Спектрометры Epsilon 3X
Версия Epsilon 4 Air Quality
US6823043B2Определение параметров материала
Серия Epsilon 1*
Спектрометры Epsilon 3X*
Версия Epsilon 4 Air Quality*
US7949092B2
Устройство и способ проведения рентгеновского анализа
Серия Epsilon 1*
Спектрометры Epsilon 3X*
Версия Epsilon 4 Air Quality*
US6574305B2
Устройство и метод проверки состояния образцаСерия Epsilon 1*
Спектрометры Epsilon 3X*
Версия Epsilon 4 Air Quality*
US7042978B2Исследование образцов материаловСерия Epsilon 1*
Спектрометры Epsilon 3X*
Версия Epsilon 4 Air Quality*
US9658352B2
CN104833557B 
JP6562635B2
JP6804594B2
Метод изготовления эталонаСерия Epsilon 1
Спектрометры Epsilon 3X
Версия Epsilon 4 Air Quality
EP2787342B1 (GB, FR, NL, DE602013028642.6)
JP6360151B2
Приготовление гранулированных образцов путем прессованияСерия Epsilon 1
Спектрометры Epsilon 3X
Версия Epsilon 4 Air Quality
US10107551B2
JP6559486B2
CN105258987B 
EP2966039B1 (GB, FR, NL, DE602014024004.2)
Подготовка образцов для XRF с использованием флюса и платинового тигляСерия Epsilon 1
Спектрометры Epsilon 3X
Версия Epsilon 4 Air Quality
US9784699B2
JP6861469B2
CN105937890B
EP3064931B1 (GB, FR, NL, CH, DE)
Количественный рентгеновский анализ — коррекция толщины матрицыСерия Epsilon 1*
Спектрометры Epsilon 3X*
Версия Epsilon 4 Air Quality*
US9739730B2
JP6706932B2
CN105938113B 
EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE602016056347.9)
Количественный рентгеновский анализ — прибор с несколькими оптическими схемамиСерия Epsilon 1*
Спектрометры Epsilon 3X*
Версия Epsilon 4 Air Quality*
US9851313B2
JP6762734B2
CN105938112B 
EP3064932B1 (GB, FR, NL, CH+LI, DE602016024126.9)
Количественный рентгеновский анализ — коррекция соотношенияСерия Epsilon 1*
Спектрометры Epsilon 3X*
Версия Epsilon 4 Air Quality*
JP3936912B2Емкость для образцов с плавающей крышкой для рентгеновского анализа жидкостейСерия Epsilon 1
Спектрометры Epsilon 3X
Версия Epsilon 4 Air Quality
US9239305B2Держатель образцаСерия Epsilon 1*
Спектрометры Epsilon 3X*
Версия Epsilon 4 Air Quality*
US9547094B2
CN104849295B
EP2908127B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602014011398.2)
JP6526983B2
Аппарат для рентгеновского анализа
Серия Epsilon 1
Спектрометры Epsilon 3X
Версия Epsilon 4 Air Quality
US7978820B2
Рентгеновская дифракция и флуоресценцияСерия Epsilon 1*
Спектрометры Epsilon 3X*
Версия Epsilon 4 Air Quality*
US7194067B2
Рентгеновская оптическая системаСерия Epsilon 1*
Спектрометры Epsilon 3X*
Версия Epsilon 4 Air Quality*
US8223923B2
JP5266310B2
CN101720491B
EP1983547B1 (GB, FR, NL, DE602008000361D1)
Источник рентгеновского излучения с металлическим проволочным катодомСерия Epsilon 1*
Спектрометры Epsilon 3X*
Версия Epsilon 4 Air Quality*
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B2 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
Расположение анода рентгеновской трубки
Серия Epsilon 1*
Спектрометры Epsilon 3X*
Версия Epsilon 4 Air Quality*
* Дополнительно / не входит в стандартную комплектацию

Напольный XRD

Номера патентовНазвание патентаОборудование
US6815684B2
Аналитический рентгеновский аппарат с твердотельным позиционно-чувствительным детектором рентгеновского излученияEmpyrean
X'Pert³ Powder
X'Pert³ MRD (XL)
Серия CubiX³
US6823043B2Определение параметров материала
Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Серия CubiX³*
US6574305B2
Устройство и метод проверки состояния образцаEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Серия CubiX³*
US9506880B2
CN104251870B
EP2818851A1
JP6403452B2
Формирование изображений с использованием дифракцииEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Серия CubiX³*
US7116754B2ДифрактометрEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Серия CubiX³*
US8488740B2
JP6009156B2
CN102565108B
EP2455747B1 (GB, FR, NL, DE602011022779.3)
Дифрактометр
Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Серия CubiX³*
US7858945B2
JP5254066B2
CN101521246B
EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3)
Датчик изображенияEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Серия CubiX³*
EP2088625B1 (GB, FR, NL, CH + LI, DE602009040563.2)Датчик изображенияEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Серия CubiX³*
US9110003B2
CN103383363B
EP2634566B1 (GB, FR, NL, DE602012058202.2)
JP6198406B2
Микродифракция
Empyrean
X'Pert³ Powder
X'Pert³ MRD (XL)
Серия CubiX³
US6704390B2
Аппарат для рентгеновского анализа с многослойным зеркалом и выходным коллиматоромEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Серия CubiX³*
US9640292B2
CN104777179B
EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1)
JP6564683B2
Рентгеновский аппарат
Empyrean
X'Pert³ Powder
Серия CubiX³
US7756248B2
JP5145263B2
CN101545873B
EP2090883B1 (GB, FR, NL, DE602008002143D1)
Обнаружение рентгеновского излучения в упаковке
Empyrean
X'Pert³ Powder
X'Pert³ MRD (XL)
US8477904B2
JP5752434B2
CN102253065B
EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1)
Рентгеновская дифракция и компьютерная томографияEmpyrean
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Серия CubiX³*
US7542547B2
JP5280057B2
CN101256160B
EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1)
Рентгенодифракционное оборудование для рассеяния рентгеновского излучения
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
EP1287342B1 (GB, FR, DE60147121.0)Рентгеновский дифрактометрEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Серия CubiX³*
US7477724B2
EP1703276B1 (GB, FR, NL, DE602005033962.0)
Рентгеновский приборEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Серия CubiX³
US7194067B2
Рентгеновская оптическая системаEmpyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Серия CubiX³*
US8437451B2
JP5999901B2
CN102610290B
EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1)
Расположение заслонки для рентгеновского излученияEmpyrean
X'Pert³ Powder
X'Pert³ MRD (XL)
Серия CubiX³
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
Расположение анода рентгеновской трубки
Empyrean*
X'Pert³ Powder*
X'Pert³ MRD (XL)*
Серия CubiX³*
EP3553508A2
US20190317030A1
JP2019184609A
CN110389142A
Аппарат и метод для рентгеновского анализаEmpyrean*
US10359376B2
EP3273229A1
JP6701133B2
CN107643308A
Держатель образца для рентгеновского анализаEmpyrean*
* Дополнительно / не входит в стандартную комплектацию

QualitySpec 7000

Номера патентовНазвание патентаОборудование
US8164747B2
CA2667650C
EP2092296B1 (CH+LI, NL, SE, DK, DE602007045593.6)
Аппарат, система и метод оптических спектроскопических измеренийQualitySpec 7000

TerraSpec Halo

Номера патентовНазвание патентаОборудование
US9207118B2Аппарат, система и методика сканирующего монохроматора и диодно-матричного спектрометраTerraSpec Halo

QualitySpec Trek

Номера патентовНазвание патентаОборудование
US9207118B2Аппарат, система и методика сканирующего монохроматора и диодно-матричного спектрометраQualitySpec Trek

Benchtops XRD

Номера патентовНазвание патентаОборудование
US6815684B2
Аналитический рентгеновский аппарат с твердотельным позиционно-чувствительным детектором рентгеновского излученияAeris*
US6823043B2Определение параметров материала
Aeris*
US9506880B2
CN104251870B
EP2818851A1
JP6403452B2
Формирование изображений с использованием дифракцииAeris*
US7116754B2ДифрактометрAeris*
US8488740B2
JP6009156B2
CN102565108B
EP2455747B1 (GB, FR, NL, DE602011022779.3)
ДифрактометрAeris*
US7858945B2
JP5254066B2
CN101521246B
EP2088451B1 (GB, FR, NL, DE602008041760.3)
Датчик изображенияAeris*
EP2088625B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602009040563.2)Датчик изображенияAeris*
US6704390B2
Аппарат для рентгеновского анализа с многослойным зеркалом и выходным коллиматоромAeris*
US9640292B2
JP6564572B2
CN104777179B
EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1)
Рентгеновский аппаратAeris
US8477904B2
JP5752434B2
CN102253065B
EP2365319B1 (GB, FR, NL, DE602011055847.1)
Рентгеновская дифракция и компьютерная томографияAeris*
US7542547B2
JP5280057B2
CN101256160B
EP1947448B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602007031351.1)
Рентгенодифракционное оборудование для рассеяния рентгеновского излучения
Aeris*
EP1287342B1 (GB, FR, DE60147121.0)Рентгеновский дифрактометрAeris*
US7477724B2
EP1703276B1 (GB, FR, NL, DE602005033962.0)
Рентгеновский приборAeris*
US7194067B2
Рентгеновская оптическая системаAeris*
US8437451B2
JP5999901B2
CN102610290B
EP2477191B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602011035906.1)
Расположение заслонки для рентгеновского излученияAeris
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
EP3043371B1 (GB, FR, NL, DE602015012421.9)
Расположение анода рентгеновской трубки
Aeris*

* Дополнительно / не входит в стандартную комплектацию