Комплект программного обеспечения Malvern Panalytical для рентгеновской дифракции (XRD)

Наши программные пакеты для XRD обеспечивают извлечение каждого бита информации из ваших материалов. Мы предлагаем интуитивно понятное ПО для сбора данных, адаптированное для исследований или управления процессами, а также передовые аналитические модули для множества областей применения XRD с использованием наших приборов.

ПО для сбора данных, предназначенное для многоцелевых дифрактометров

Данные программные модули позволят вам в полной мере использовать все возможности многофункциональных приборов Empyrean, X’Pert³ Powder и X’Pert³ PRO MRD.

Data Collector — это панель инструментов программного обеспечения для централизованного сбора данных, предназначенная для приборов Empyrean, X'Pert³ MRD (XL) и X'Pert³ Powder. XRD2Dscan обеспечивает простое преобразование двухмерных наборов данных в одномерные кривые для дальнейшего анализа. Мы предлагаем дополнительный модуль Audit Trail для регулируемых отраслей.

fullimage_Data collector Cover 435x355.jpg
fullimage_XRD2DSCAN Cover 435x355.jpg

Data Collector

Data Collector представляет собой управляющую программу для любых измерений, проводимых на наноматериалах, порошках, тонких пленках и твердых телах.

XRD2DScan

Визуализируйте двухмерные дифракционные данные и преобразуйте их в различные одномерные схемы с помощью XRD2Dscan.

ПО для систем управления процессом на основе порошковой дифракции

Управляйте системами CubiX³ или X’Pert³ Powder для измерений по методу порошковой дифракции и получайте результаты количественного анализа на основе калибровочной линии.

ПО Industry разработано для промышленных условий с использованием кнопочного интерфейса и расширенными возможностями системы управления лабораторными данными (LIMS) и автоматизации. Опциональный интерфейс Walk-up оказывает поддержку в условиях многопользовательской среды. Quantify представляет собой упрощенную версию ПО с 10 предварительно запрограммированными модулями количественного анализа.

fullimage_Industry Cover 435x355.jpg
fullimage_Quantify Cover 435x355.jpg
fullimage_Audit Trail Cover 435x355.jpg

Industry

Наше программное обеспечение Industry предназначено для рутинного рентгеновского дифракционного анализа больших объемов в промышленных условиях.

Quantify

Quantify — это автономное программное обеспечение для сбора основных данных и количественного фазового анализа на основе калибровочной линии

Audit Trail

ПО Audit Trail предназначено для поддержки работы порошковых дифрактометров, предлагаемых нашей компанией, в регулируемых отраслях.

Программные модули для порошковой дифракции

Наша серия ПО для порошковой дифракции HighScore разработана для извлечения максимального количества информации о фазах сыпучих или спрессованных порошков и других поликристаллических образцов.

Узнайте больше о самом передовом в мире программном обеспечении HighScore, которое использует алгоритм поиска и сравнения и обеспечивает обширную поддержку различных баз данных (например, CanDI-X), основанных на данном алгоритме. Опция HighScore Plus предлагает дополнительные процедуры для кристаллографии, неограниченной кластеризации и анализа Ритвельда в дополнение ко всем функциям HighScore. RoboRiet включает функцию количественного анализа Ритвельда (предполагает только выполнение) и подгонки профиля для промышленных условий.

fullimage_Highscore Plus cover 435x355.jpg
fullimage_HighScorePlus Cover 435x355.jpg
fullimage_Search match Cover 435x355.jpg
fullimage_RoboRiet Cover 435x355.jpg

HighScore

HighScore — наше программное обеспечение для порошковой дифракции, которое также может использоваться для идентификации фаз и профилирования по глубине в поликристаллических покрытиях.

Опция Plus для HighScore 

В дополнение к HighScore опция Plus позволяет выполнять процедуры для кристаллографии, неограниченной кластеризации, анализа Ритвельда / подгонки структур и многое другое в рамках одного пользовательского интерфейса.

Справочные базы данных с алгоритмом поиска и сравнения

Мы поддерживаем самый широкий перечень баз данных с алгоритмом поиска и сравнения для достижения максимального результата при идентификации фаз.

RoboRiet

RoboRiet — это специальная реализация метода Ритвельда (предполагает только выполнение) и подгонки профиля для использования в промышленных условиях.

XRD-анализ тонких пленок

C помощью программных модулей для тонких пленок можно получать подробные данные о толщине, составе, предпочтительной ориентации, эпитаксиальном качестве и остаточных напряжениях, присутствующих в слоях.

Эти основные параметры тонких слоев легко и быстро поддаются количественному анализу с помощью нового многофункционального комплекта программного обеспечения для расширенного анализа материалов и моделирования AMASS. 

Для поликристаллических слоев и многослойных структур можно использовать ПО HighScore, предлагаемое нашей компанией, для определения фазового состава и анализа глубины, а также наше ПО Stress Plus для определения остаточных напряжений.

AMASS_mockup.jpg fullimage_Stress plus Cover 435x355.jpg

AMASS

Наш комплект программного обеспечения AMASS предлагает все необходимые функции для характеризации многослойных структур, что позволяет быстро и легко определять ключевые параметры тонких пленок.

Stress Plus

С помощью нашего модуля Stress Plus, предлагаемого в дополнение к пакету программного обеспечения Stress, можно определить остаточные напряжения в поликристаллических пленках.

Анализ размера и формы наноматериалов

ПО EasySAXS для анализа данных о наночастицах и наноструктуре. ПО позволяет получать данные о наноразмерных структурах и размерах, формах наночастиц и площади поверхности. Программное обеспечение также поддерживает анализ данных сверхмалоуглового рассеяния рентгеновского излучения (USAXS).

fullimage_XRD Software EasySAXS_LandingPage.jpg

Усовершенствованное ПО для анализа данных малоуглового рассеяния рентгеновского излучения (SAXS)

EasySAXS — это усовершенствованный пакет программного обеспечения с удобным интерфейсом, предназначенный для анализа данных, полученных на основе малоуглового рассеяния рентгеновского излучения (SAXS).

Анализ твердых объектов

Программные модули Texture и Stress позволяют определить предпочтительную ориентацию и остаточные напряжения в обработанных металлических компонентах, например, в прокатном или штампованном металле.

Специалисты по всему миру отмечают их обширные и в то же время интуитивно понятные функциональные возможности. Опциональный модуль Stress Plus добавляет анализ остаточного напряжения в тонких пленках к функциям пакета Stress.
Модуль Texture предоставляет широкие возможности для анализа полюсных фигур, использования функций распределения ориентации (ODF) и обратных полюсных фигур.

fullimage_Stress Cover 435x355.jpg
fullimage_Stress plus Cover 435x355.jpg
fullimage_Texture Cover 435x355.jpg

Stress

Наш интуитивный пакет Stress выполняет расчет остаточных напряжений в образцах с помощью метода sin2Ψ.

Stress Plus

Опция Stress Plus позволяет расширить функциональность программного обеспечения Stress благодаря добавлению анализа поликристаллических и тонких пленок.

Texture

Texture — наш пакет программного обеспечения, позволяющий анализировать, рассчитывать и визуализировать предпочтительные ориентации кристаллов.