業界固有の洞察はここから始まります - Aeris XRD がどのように重要な結果をもたらすかをご覧ください. もっと詳しく知る
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当社の卓上型X線回折装置（XRD）である Aeris（エアリス）は、これまでは大型のフロアスタンディングの装置でしかできなかったデータ品質とデータ取得速度を実現しています。
Aerisは、組み込みタッチスクリーンと直感的なソフトウェアにより、だれでもこの装置を簡便に使用することができるほか、出力したデータは床置き型のX線回折装置と共通の解析ソフトウェア High Score上で,化合物の同定、定量、結晶化度、結晶子サイズ解析及びリートベルト法による結晶相の定量、結晶構造解析等、多様かつ詳細なデータ解析ができるようになっています。
Aerisはマルバーン・パナリティカルのX線回折装置(XRD)として、産業用途における卓上型での最良データ取得と完全自動化の実現を可能にします。 Aerisは低価格で提供できるように設計されたX線回折装置（XRD）で、アプリケーション特有のニーズに合わせて4タイプのエディション(セメント（Cement）、鉱物（Minerals）、金属（Metals）、および研究（Researchエディション)もご用意しています。
OmniTrust対応：製薬分野レギュレーション環境向けソリューション
![[support_jp_latest.png] support_jp_latest.png](https://dam.malvernpanalytical.com/d1266b2b-1350-4ddf-bb8a-b2b9007db8aa/support_jp_latest_Original%20file.png)
一般的に卓上型のX線回折装置のゴニオメータは、小型化・軽量化を意識したものが使われています。Aerisでは、正確性の高いフロアスタンディングタイプのX線回折装置（XRD）と同様のゴニオメータ、さらにはX線管球、高速検出器を搭載しています。
従来の卓上型粉末X線回折（XRD）と比較して、低角度側のバックグラウンドが低下し、微小なピークが検出しやすくなりました。
また、卓上型X線回折（XRD） でありながら半値幅 0.04°未満のプロファイル分解能を実現しました。精密なリートベルト解析に効果を発揮します。
ハイエンドモデルのX線回折装置(XRD)と同等の高精度ゴニオメータを搭載することで、角度直線性が ±0.02°以内という信頼性の高いデータを取得可能にし、良好な繰り返し測定再現性を実現しています。
X線照射部・測定部・検出系は密閉構造となっており、安全性が確保された装置です。
測定時、試料は装置外部の試料台に設置すると、自動で測定部に運ばれ測定作業が始まります。
XRDで試料の化合物同定、結晶解析する方法：まず、単色（単波長）のX線を粉末に角度を変えながら照射します。このとき、試料中に結晶が含まれていれば、「ブラッグ 条件」を満たす角度条件のとき、結晶面間隔由来のピークが出現します。このピークが出る「角度位置」が結晶特有の「面間隔」を示します。つまり、ピークの位置と強度から、どんな種類の結晶がどれくらい含まれているかを推定して定性（同定）さらには定量を行います。
さらには結晶子サイズ、結晶歪、格子定数等のパラメータも解析できます。
試料に結晶性成分が含まれていない場合すなわちアモルファスであれば、シャープなピークは出現せずブロードピークのみが観察されます。この現象を利用して、結晶化度などを測定することも可能です。
詳細を知りたい方は こちら 。
柔軟な解析
便利な機能
包括的
Great value to purchase, fast and easy to use, fantastic data; it's a winner!
Damian G. Research
| サンプルの装填 | 外部サンプルローディング |
|---|---|
| Sample holders | あらゆる要件に対応できる、さまざまなフルサイズサンプルホルダ |
| サンプルの交換 | 6ポジションフルサイズサンプルチェンジャ
|
| 自動化 | 自動化統合に対応
|
| 波長 | Cu / Co |
|---|---|
| Tube setting | 30 kVまたは40 kV設定で300 W～600 Wのオプション
|
| Tube housing | 耐食性入射スマートビームパス技術(CRISP)を採用した特許取得済みの設計。
CRISP技術は、X線によって生成したイオン化空気による入射ビームパスの腐食を防ぎます。特許番号US 8437451 B2。
|
| Base configuration | 垂直ゴニオメータ、結合θ-θと分離θ-θ、サンプルはつねに水平
|
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano、透過、斜入射
|
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2θ ≤ 142°(スキャン検出器および全有効長を使用)
|
| Angle positioning | 全使用期間にわたる位置決め精度を備えた直接光学式位置検出(DOPS3)
|
| Scan Speed | 最大2.17°/s
|
| 分解能 | < 0.04° 2θ、LaB6 (0.01 rad Sollerスリットを使用)
|
| 2θ linearity | < 0.04° 2θ
|
| Smallest addressable increment | 0.001 ° |
| Spinning | スピナーステージの選択
|
|---|---|
| Non-ambient | 加熱ステージオプション(BTS-500、BTS-150)
|
| Exchange of stages | 調整不要のステージのPreFIX交換
|
| Special stages | ご要望に応じて(手動、MPSS、現場)
|
| 検出器 | PIXcel1D、PIXcel3D、1Der検出器から選択
|
| 寸法 | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | 外部サンプルローディングつきクローズドシステム
|
| External cooling water supply | 不要 |
| Compressed air supply | 不要 |
| Power Supply | 100～240 V、単相
|
| コンピューター | 内蔵機器用PC
|
| オペレーション | 10.4インチのタッチスクリーンを備えた直感的なユーザーインターフェース
|
| インターフェース | LAN, USB, HDMI |
1D 検出における究極の多用途性とデータの明瞭さ
専用ストリップ検出器としての Medipix テクノロジー
0D-1D-2Dおよび3Dデータを回析計に取り込む最初の検出器
産業プロセス制御用の自動リートベルト調整
自動化および規制環境でのXRD分析
結晶構造分析などを行うために理想的なツールです。
多結晶コーティングの応力分析
無人運用型高スループットXRD分析のための新しいソリューション
Aerisを使用すると、研究環境と産業環境の両方で、あらゆるサンプルの特性評価と分析が容易になります。しかし、アプリケーションに専門的なソリューションが必要な場合や、ベンチトップ型XRDシステムの代替品をキャリブレーションして、すぐに使用できるようにする必要がある場合があります。
このニーズを満たすために、業界固有のカスタマイズされたAerisエディションもすぐに利用できます。これらの特殊な業界バージョンには、特定の分析方法やサンプル材料に合わせて事前キャリブレーションされたカスタマイズ可能な専門知識パッケージが付属しています。お使いのAerisは、内蔵Roborietソフトウェアを使用して自動測定と分析に対応します。いつでも準備OK！
以下でお使いのエディションを検索してください。
バージョン番号:: 8
バージョン番号:: 8
バージョン番号:: 8
バージョン番号:: 6
バージョン番号:: 7
バージョン番号:: 8
バージョン番号:: 8
バージョン番号:: 8
バージョン番号:: 8
バージョン番号:: 6
バージョン番号:: 6
バージョン番号:: 6
バージョン番号:: 2
バージョン番号:: 4
バージョン番号:: 4
バージョン番号:: 3
バージョン番号:: 2
バージョン番号:: 4
バージョン番号:: 2
バージョン番号:: 3
OmniTrust software update v1.7a
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
お客様の装置が最高の状態を保ち、最高レベルで機能するために、Malvern Panalyticalではさまざまなサービスを提供しています。当社の専門知識とサポートサービスは、装置が最適に機能するよう保証します。
耐用年数終了までサービス
工程に価値を付加する
当社の卓上型X線回折装置（XRD）である Aeris（エアリス）は、これまでは大型のフロアスタンディングの装置でしかできなかったデータ品質とデータ取得速度を実現しています。
Aerisは、組み込みタッチスクリーンと直感的なソフトウェアにより、だれでもこの装置を簡便に使用することができるほか、出力したデータは床置き型のX線回折装置と共通の解析ソフトウェア High Score上で,化合物の同定、定量、結晶化度、結晶子サイズ解析及びリートベルト法による結晶相の定量、結晶構造解析等、多様かつ詳細なデータ解析ができるようになっています。
Aerisはマルバーン・パナリティカルのX線回折装置(XRD)として、産業用途における卓上型での最良データ取得と完全自動化の実現を可能にします。 Aerisは低価格で提供できるように設計されたX線回折装置（XRD）で、アプリケーション特有のニーズに合わせて4タイプのエディション(セメント（Cement）、鉱物（Minerals）、金属（Metals）、および研究（Researchエディション)もご用意しています。
OmniTrust対応：製薬分野レギュレーション環境向けソリューション
一般的に卓上型のX線回折装置のゴニオメータは、小型化・軽量化を意識したものが使われています。Aerisでは、正確性の高いフロアスタンディングタイプのX線回折装置（XRD）と同様のゴニオメータ、さらにはX線管球、高速検出器を搭載しています。
従来の卓上型粉末X線回折（XRD）と比較して、低角度側のバックグラウンドが低下し、微小なピークが検出しやすくなりました。
また、卓上型X線回折（XRD） でありながら半値幅 0.04°未満のプロファイル分解能を実現しました。精密なリートベルト解析に効果を発揮します。
ハイエンドモデルのX線回折装置(XRD)と同等の高精度ゴニオメータを搭載することで、角度直線性が ±0.02°以内という信頼性の高いデータを取得可能にし、良好な繰り返し測定再現性を実現しています。
X線照射部・測定部・検出系は密閉構造となっており、安全性が確保された装置です。
測定時、試料は装置外部の試料台に設置すると、自動で測定部に運ばれ測定作業が始まります。
XRDで試料の化合物同定、結晶解析する方法：まず、単色（単波長）のX線を粉末に角度を変えながら照射します。このとき、試料中に結晶が含まれていれば、「ブラッグ 条件」を満たす角度条件のとき、結晶面間隔由来のピークが出現します。このピークが出る「角度位置」が結晶特有の「面間隔」を示します。つまり、ピークの位置と強度から、どんな種類の結晶がどれくらい含まれているかを推定して定性（同定）さらには定量を行います。
さらには結晶子サイズ、結晶歪、格子定数等のパラメータも解析できます。
試料に結晶性成分が含まれていない場合すなわちアモルファスであれば、シャープなピークは出現せずブロードピークのみが観察されます。この現象を利用して、結晶化度などを測定することも可能です。
詳細を知りたい方は こちら 。
柔軟な解析
便利な機能
包括的
Great value to purchase, fast and easy to use, fantastic data; it's a winner!
Damian G. Research
| サンプルの装填 | 外部サンプルローディング |
|---|---|
| Sample holders | あらゆる要件に対応できる、さまざまなフルサイズサンプルホルダ |
| サンプルの交換 | 6ポジションフルサイズサンプルチェンジャ
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| 自動化 | 自動化統合に対応
|
| 波長 | Cu / Co |
|---|---|
| Tube setting | 30 kVまたは40 kV設定で300 W～600 Wのオプション
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| Tube housing | 耐食性入射スマートビームパス技術(CRISP)を採用した特許取得済みの設計。
CRISP技術は、X線によって生成したイオン化空気による入射ビームパスの腐食を防ぎます。特許番号US 8437451 B2。
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| Base configuration | 垂直ゴニオメータ、結合θ-θと分離θ-θ、サンプルはつねに水平
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|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano、透過、斜入射
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| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2θ ≤ 142°(スキャン検出器および全有効長を使用)
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| Angle positioning | 全使用期間にわたる位置決め精度を備えた直接光学式位置検出(DOPS3)
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| Scan Speed | 最大2.17°/s
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| 分解能 | < 0.04° 2θ、LaB6 (0.01 rad Sollerスリットを使用)
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| 2θ linearity | < 0.04° 2θ
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| Smallest addressable increment | 0.001 ° |
| Spinning | スピナーステージの選択
|
|---|---|
| Non-ambient | 加熱ステージオプション(BTS-500、BTS-150)
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| Exchange of stages | 調整不要のステージのPreFIX交換
|
| Special stages | ご要望に応じて(手動、MPSS、現場)
|
| 検出器 | PIXcel1D、PIXcel3D、1Der検出器から選択
|
| 寸法 | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | 外部サンプルローディングつきクローズドシステム
|
| External cooling water supply | 不要 |
| Compressed air supply | 不要 |
| Power Supply | 100～240 V、単相
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| コンピューター | 内蔵機器用PC
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| オペレーション | 10.4インチのタッチスクリーンを備えた直感的なユーザーインターフェース
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| インターフェース | LAN, USB, HDMI |
1D 検出における究極の多用途性とデータの明瞭さ
専用ストリップ検出器としての Medipix テクノロジー
0D-1D-2Dおよび3Dデータを回析計に取り込む最初の検出器
産業プロセス制御用の自動リートベルト調整
自動化および規制環境でのXRD分析
結晶構造分析などを行うために理想的なツールです。
多結晶コーティングの応力分析
無人運用型高スループットXRD分析のための新しいソリューション
Aerisを使用すると、研究環境と産業環境の両方で、あらゆるサンプルの特性評価と分析が容易になります。しかし、アプリケーションに専門的なソリューションが必要な場合や、ベンチトップ型XRDシステムの代替品をキャリブレーションして、すぐに使用できるようにする必要がある場合があります。
このニーズを満たすために、業界固有のカスタマイズされたAerisエディションもすぐに利用できます。これらの特殊な業界バージョンには、特定の分析方法やサンプル材料に合わせて事前キャリブレーションされたカスタマイズ可能な専門知識パッケージが付属しています。お使いのAerisは、内蔵Roborietソフトウェアを使用して自動測定と分析に対応します。いつでも準備OK！
以下でお使いのエディションを検索してください。
バージョン番号:: 8
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バージョン番号:: 6
バージョン番号:: 7
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バージョン番号:: 6
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バージョン番号:: 2
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バージョン番号:: 4
バージョン番号:: 3
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お客様の装置が最高の状態を保ち、最高レベルで機能するために、Malvern Panalyticalではさまざまなサービスを提供しています。当社の専門知識とサポートサービスは、装置が最適に機能するよう保証します。
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