|
Серия Mastersizer
Наиболее распространенные в мире анализаторы размеров частиц (лазерные гранулометры)
|
|
Подробнее
|
| Измерение |
Размер частиц (гранулометрический состав) |
| Диапазон размеров частиц |
0.01мкм - 3500мкм
|
| Технология |
Лазерная дифракция |
| Тип диспергирования |
Жидкие, Сухой (процесс, способ измерения, вид образца), Жидкий и сухой |
|
Серия Zetasizer
Самые распространенные в мире системы для измерения заряда и определения размеров наночастиц, частиц коллоидов и белков
|
|
Подробнее
|
| Измерение |
Размер молекул, Абсолютная молекулярная масса, Размер частиц (гранулометрический состав), Дзета-потенциал |
| Диапазон температур |
0°C - 120°C
|
| Диапазон размеров частиц |
0.3nm - 10мкм
|
| Технология |
Гель-проникающая хроматография (GPC/SEC), Динамическое Рассеяние Света, Электрофоретическое рассеяние света, Статическое рассеяние света |
| Тип диспергирования |
Жидкие |
| Тип кюветы для образца |
Cuvette |
| Molecular Measurement Type |
Chromotography, Batch measurement |
|
Серия Morphologi
Автоматизированная визуализация для улучшенной характеризации частиц
|
|
Подробнее
|
| Измерение |
Химический состав, Форма частиц, Размер частиц (гранулометрический состав) |
| Диапазон размеров частиц |
0.5мкм - 1000мкм
|
| Технология |
Анализ изображения |
|
2830 ZT
Передовое решение для анализа тонких пленок полупроводников
|
|
Подробнее
|
| Измерение |
Химический состав, Исследования тонких пленок, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| Диапазон элементов |
Be-U
|
| Разрешение (Mg-Ka) |
35eV
|
| Скорость обработки образца |
up to 25 wafers per hour
|
| LLD |
0.1 ppm - 100%
|
| Технология |
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) |
|
Epsilon 1 для анализа небольших областей
Фокусируйтесь на деталях, чтобы получить лучшее представление об объекте
|
|
Подробнее
|
| Измерение |
Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| Диапазон элементов |
Na-Am
|
| Разрешение (Mg-Ka) |
145eV
|
| LLD |
1 ppm - 100%
|
| Скорость обработки образца |
40per 8h day - 80per 8h day
|
| Технология |
X-ray Fluorescence (XRF) |
|
Epsilon 4
Быстрый и точный элементный анализ рядом с производственной линией
|
|
Подробнее
|
| Измерение |
Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| Диапазон элементов |
C-Am
|
| Разрешение (Mg-Ka) |
135eV
|
| LLD |
1 ppm - 100%
|
| Скорость обработки образца |
80per 8h day - 160per 8h day
|
| Технология |
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
|
Epsilon 4 Polymers plastics and paints
Increase your polymer product consistency
|
|
Подробнее
|
| Измерение |
Elemental analysis, Elemental quantification |
| Технология |
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
