|
Серия Mastersizer
Наиболее распространенные в мире анализаторы размеров частиц (лазерные гранулометры)
|
|
Подробнее
|
| Измерение |
Размер частиц (гранулометрический состав) |
| Диапазон размеров частиц |
0.01мкм - 3500мкм
|
| Технология |
Лазерная дифракция |
| Тип диспергирования |
Жидкие, Сухой (процесс, способ измерения, вид образца), Жидкий и сухой |
|
Серия Morphologi
Автоматизированная визуализация для улучшенной характеризации частиц
|
|
Подробнее
|
| Измерение |
Химический состав, Форма частиц, Размер частиц (гранулометрический состав) |
| Диапазон размеров частиц |
0.5мкм - 1000мкм
|
| Технология |
Анализ изображения |
|
Empyrean
Интеллектуальный дифрактометр
|
|
Подробнее
|
| Измерение |
Crystal structure determination, Идентификация фаз, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, Анализ текстур, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis |
| Конфигурация гониометра |
Vertical goniometer, Θ-Θ
|
| Диапазон размеров частиц |
1 - 100 nm
|
| Технология |
X-ray Diffraction (XRD) |
|
Исполнение Aeris Metals (для анализа металлов)
Оптимизация процесса изготовления стали
|
|
Подробнее
|
| Измерение |
Crystal structure determination, Идентификация фаз, Phase quantification |
| Материал анода рентгеновской трубки |
Co / Cu (option)
|
| Детектор |
PIXcel1D
|
| Технология |
X-ray Diffraction (XRD) |
|
Zetium, версия Metals (для металлов)
Новый элемент в металлах
|
|
Подробнее
|
| Измерение |
Исследования тонких пленок, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| Скорость обработки образца |
160per 8h day - 240per 8h day
|
| Источник питания |
2,4-4 kW
|
| Технология |
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
|
Axios FAST
Высокая производительность
|
|
Подробнее
|
| Измерение |
Исследования тонких пленок, Elemental analysis, Elemental quantification |
| Диапазон элементов |
Be-U
|
| Разрешение (Mg-Ka) |
35eV
|
| LLD |
0.1 ppm - 100%
|
| Скорость обработки образца |
240per 8h day - 480per 8h day
|
| Технология |
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) |