При исследовании материалов ученые рассматривают множество аналитических вопросов, связанных с кристаллической структурой образцов материалов. Рентгеновская дифракция (XRD) – это единственная лабораторная технология, которая позволяет получать структурные данные, такие как химический состав, кристаллическая структура, размер кристаллита, деформация, предпочтительная ориентация и толщина слоя. В связи с этим исследователи материалов используют XRD для анализа широкого спектра материалов, от порошков и твердых веществ до тонких пленок и наноматериалов.

Наука и промышленность

Многие исследователи, работающие в промышленных и научных лабораториях, используют рентгеновскую дифракцию в качестве инструмента для разработки новых материалов или повышения эффективности производства. Инновации в области рентгеновской дифракции тесно связаны с изучением новых материалов, например в полупроводниковых технологиях, или исследованиями в фармацевтической промышленности. Промышленные исследования направлены на постоянное повышение скорости и эффективности производственных процессов. Полностью автоматизированный анализ с помощью рентгеновской дифракции в таких отраслях как, добыча полезных ископаемых и производство строительных материалов, позволяет получить более экономичные решения для управления производством.

Решения аналитических задач

Рентгеновский дифракционный анализ отвечает многим аналитическим потребностям материаловедов. В сфере производства порошков химические фазы идентифицируют как качественно, так и количественно. Рентгеновская дифракция высокого разрешения позволяет выявлять такие параметры слоя, как состав, толщина, шероховатость и плотность в тонких пленках полупроводников. Малоугловое рентгеновское рассеяние и парная функция распределения (PDF) помогают анализировать структурные свойства наноматериалов. Напряжения и предпочтительная ориентация могут быть определены в широком диапазоне твердых веществ и сложных инженерных компонентов.

Узнайте больше!

Malvern Panalytical приглашает вас ознакомиться с широким спектром аналитических задач, которые позволит решить дифрактометр.

Aeris

Серия Empyrean

X'Pert³ MRD

X'Pert³ MRD XL

Aeris Серия Empyrean X'Pert³ MRD X'Pert³ MRD XL

Benchtop X-ray diffractometer

Многоцелевое решение для ваших аналитических задач

Versatile research & development XRD system

Versatile research, development & quality control XRD system

Подробнее Подробнее Подробнее Подробнее
Технология
X-ray Diffraction (XRD)
Анализируемые свойства
Форма частиц
Размер частиц (гранулометрический состав)
Crystal structure determination
Идентификация фаз
Phase quantification
Contaminant detection and analysis
Epitaxy analysis
Interface roughness
3D structure / imaging
Исследования тонких пленок
Residual stress