При исследовании материалов ученые рассматривают множество аналитических вопросов, связанных с кристаллической структурой образцов материалов. Рентгеновская дифракция (XRD) – это единственная лабораторная технология, которая позволяет получать структурные данные, такие как химический состав, кристаллическая структура, размер кристаллита, деформация, предпочтительная ориентация и толщина слоя. В связи с этим исследователи материалов используют XRD для анализа широкого спектра материалов, от порошков и твердых веществ до тонких пленок и наноматериалов.

Наука и промышленность

Многие исследователи, работающие в промышленных и научных лабораториях, используют рентгеновскую дифракцию в качестве инструмента для разработки новых материалов или повышения эффективности производства. Инновации в области рентгеновской дифракции тесно связаны с изучением новых материалов, например в полупроводниковых технологиях, или исследованиями в фармацевтической промышленности. Промышленные исследования направлены на постоянное повышение скорости и эффективности производственных процессов. Полностью автоматизированный анализ с помощью рентгеновской дифракции в таких отраслях как, добыча полезных ископаемых и производство строительных материалов, позволяет получить более экономичные решения для управления производством.

Решения аналитических задач

Рентгеновский дифракционный анализ отвечает многим аналитическим потребностям материаловедов. В сфере производства порошков химические фазы идентифицируют как качественно, так и количественно. Рентгеновская дифракция высокого разрешения позволяет выявлять такие параметры слоя, как состав, толщина, шероховатость и плотность в тонких пленках полупроводников. Малоугловое рентгеновское рассеяние и парная функция распределения (PDF) помогают анализировать структурные свойства наноматериалов. Напряжения и предпочтительная ориентация могут быть определены в широком диапазоне твердых веществ и сложных инженерных компонентов.

Узнайте больше!

Malvern Panalytical приглашает вас ознакомиться с широким спектром аналитических задач, которые позволит решить дифрактометр.

Aeris

Aeris

Новое поколение рентгенодифракционных методов исследования

Подробнее
Измерение Определение кристаллической структуры, Идентификация фаз, Количественный фазовый анализ
Материал анода рентгеновской трубки Cu /Co (option)
Технология X-ray Diffraction (XRD)

Серия Empyrean

Серия Empyrean

Многоцелевое решение для ваших аналитических задач

Подробнее
Измерение Форма частиц, Размер частиц, Определение кристаллической структуры, Идентификация фаз, Количественный фазовый анализ, Обнаружение и анализ загрязнителей, Анализ эпитаксиальных структур, Шероховатость границы раздела, Трехмерная структура / визуализация
Конфигурация гониометра Vertical goniometer, Θ-Θ
Технология X-ray Diffraction (XRD)

Aeris

Aeris

Новое поколение рентгенодифракционных методов исследования

Серия Empyrean

Серия Empyrean

Многоцелевое решение для ваших аналитических задач

Подробнее Подробнее
Измерение Определение кристаллической структуры, Идентификация фаз, Количественный фазовый анализ Форма частиц, Размер частиц, Определение кристаллической структуры, Идентификация фаз, Количественный фазовый анализ, Обнаружение и анализ загрязнителей, Анализ эпитаксиальных структур, Шероховатость границы раздела, Трехмерная структура / визуализация
Материал анода рентгеновской трубки Cu /Co (option)  
Конфигурация гониометра   Vertical goniometer, Θ-Θ
Технология X-ray Diffraction (XRD) X-ray Diffraction (XRD)

Aeris

Серия Empyrean

X'Pert³ MRD

X'Pert³ MRD XL

Aeris Серия Empyrean X'Pert³ MRD X'Pert³ MRD XL

Benchtop X-ray diffractometer

Многоцелевое решение для ваших аналитических задач

Универсальная система XRD для исследований и разработок

Универсальная рентгеновская дифракционная система (XRD) для исследований, разработок и контроля качества

Подробнее Подробнее Подробнее Подробнее
Технология
X-ray Diffraction (XRD)
Анализируемые свойства
Форма частиц
Размер частиц
Определение кристаллической структуры
Идентификация фаз
Количественный фазовый анализ
Обнаружение и анализ загрязнителей
Анализ эпитаксиальных структур
Шероховатость границы раздела
Трехмерная структура / визуализация
Исследования тонких пленок
Остаточное напряжение