Рентгеновская микродифракция

Анализ малоразмерных структур

Микродифракция (также известная как рентгеновская микродифракция, микрорентгеновская дифракция или µXRD) использует очень узкий луч для выполнения высоколокализованных XRD-измерений очень маленькой области. Специальные коллиматоры падающего луча снижают излучаемые рентгеновские лучи. С помощью монокапиллярной трубки можно создавать падающий рентгеновский луч диаметром около 50 мкм. Метод микродифракции обычно используют для малого или негомогенного образца с изменяющимся составом, деформацией решетки или предпочтительной ориентацией кристаллитов.

Детальная характеризация путем микроструктурных исследований

Микродифракцию можно применять для многих дифракционных исследований, включая характеризацию: малых пятен на образцах с сильными градиентами в составе. К ним относятся загрязнители, включения, минералогические образцы, криминалистические образцы, малые сечения материала древних картин, археологические образцы, обработанные детали, инструментальные пластины и полупроводниковые пластины с узором.

Решения Malvern Panalytical в области микродифракции

Измерения с микродифракцией можно выполнять с помощью платформ Empyrean оснащенных модулем PreFIX, способным создавать узконаправленный луч (например, монокапиллярные или двойные перекрестные щели) на траектории падающего луча, а также видеокамерой с большим увеличением для визуализации и позиционирования образца в рентгеновском луче. 
Используя наши гибридные пиксельные детекторы, можно собрать двухмерные дифракционные схемы, которые дают непосредственное представление о составе фазы в неоднородном образце.