薄膜測定

X線測定は、異なる種類の層構造LEDなどの開発、大量生産において薄膜解析を行うのに最適なツールです。 

X線計測技術は、新しいレイヤーベースのアプリケーションと技術の開発を通じて、業界の進歩に追いついてきました。 

これらの技術は、半導体デバイスの研究開発段階からパイロット生産、そして本格的な自動製造に至るまで不可欠なツールとして機能し続けます。