見えないものを見えるようにする

受賞歴のある当社の幅広い機器は、あらゆることをより深く理解し、不可能を可能にするのに役立ちます。

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NIR分光計

近赤外分光計および分光放射計

ポータブルハンドヘルド分光計

ポータブル分光計とハンドヘルド型の代替品

XRFとICP向けのサンプル前処理

正確な XRF 分析のための簡単なサンプル前処理

自動化ソリューション

業界向けにコストを削減し、品質を最適化する

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弊社の営業チームが喜んでお手伝いさせていただきます。1 営業日以内にご連絡させていただくよう努めております。

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あらゆる業界向けの画期的なソリューション

当社の科学機器が、タンパク質、金属、ポリマーから周囲の土壌や空気に至るまで、ユーザーがあらゆるものをより深く理解し、形作るのにどのように役立つかについて詳しくご覧ください。

金属成分分析

金属成分分析および合金製造のための分析ソリューション

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金属成分分析

電池とエネルギー

電池と再生可能エネルギー貯蔵: 適切な分析ソリューションにより研究や生産を促進します

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電池とエネルギー

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ゼータサイザーシリーズ

ナノ粒子、コロイド、生体分子の粒子径、粒子荷電(ゼータ電位)の測定で世界で最も多く用いられているシステム

ゼータサイザーシリーズ
 

高性能卓上XRF分析装置 Epsilonシリーズ

次世代を見据えた「元素分析の新時代」を切り開く、高機能・高感度の卓上型エネルギー分散型蛍光X線(EDXRF)装置です。

高性能卓上XRF分析装置 Epsilonシリーズ


X線回折装置(XRD)Empyreanシリーズ

分析ニーズに対応する多目的ソリューション

X線回折装置(XRD)Empyreanシリーズ

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XRD - X線回折

粉末や固体から薄膜やナノ材料まで対応する、結晶化合物の非破壊分析手法

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XRD - X線回折


DLS - 動的光散乱法

ナノ粒子を実用的に計測できる、最も良く知られ、実績のある分析手法

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粒子径

サブナノメートルからミリメートルの粒度分布を分析

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粒子径


ゼータ電位

処方の安定性や保存期間向上と、調合時間の短縮、コスト削減のためのゼータ電位測定

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ゼータ電位


結合親和性

GCIとITCを使用したラベルフリーのタンパク質リガンド相互作用解析ソリューション

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結合親和性


含水率

NIR分光法を使用した含水率分析機器および装置

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含水率

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技術情報

FP定量結果の誤差の原因は何でしょうか?

by Malvern Panalytical | 09 July 2024

蛍光X線分析法は、試料前処理の容易さ、安定性、適用濃度範囲の広さから、広い業界で使われてきました。但し、定量分析を行う場合は、試料内部に存在する元素間での2次励起や吸収等の影響が生じるため、同じマトリックスの標準物質を用いた検量線が必要となります。このために、各マトリックスに於ける標準試料の準備が必要で、市販されていない場合は標準試料を得るために自作する等、多大な労力を要します。

FP定量結果の誤差の原因は何でしょうか?
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Future Days semiconductor まとめ

by Malvern Panalytical | 19 June 2024

この記事は先日行われたFuture days semiconductorの総括です。

Future Days semiconductor まとめ