Research themes

You’ll be amazed where our instruments are used

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Malvern Panalytical has >750 application notes and we also have many published papers showing how our technologies are used for a large range of applications.  Here we have cataloged our application notes according to the themes of University Departments. This gives you the opportunity to have an overview of what has been produced in subjects close to yours. You may be quite knowledgeable in one analytical method and want to know how other analysis types are used in your field of research. You may be starting a new field of research and want to know what can help you gain vital knowledge. Take some time to look around! If you don’t find what you’re looking for, contact us. We may be able to find information for you that is not yet published. 

Analysis methods are indicated by abbreviations. There is a table at the bottom of each page explaining the method and its abbreviation.

Click on a department heading to find relevant application notes! 

If you don’t find what you are looking for. Don’t be afraid to Contact Us.

略語解説

当社の製品と技術については、製品ページを参照してください。以下では、当社の装置で測定された特性、測定名とその略称を簡単に参照できます。各メソッドをクリックすると、詳細が表示されます。 

略語

メソッド名

装置

測定された特性

DLS

動的光散乱法(DLS)

ゼータサイザー

分子サイズ、流体力学的半径RH、粒子サイズ、粒度分布、安定性、濃度、凝集

ELS

電気泳動光散乱

ゼータサイザー

ゼータ電位、粒子電荷、懸濁液の安定性、タンパク質電気泳動移動度

ITC

等温滴定型カロリメトリー

MicroCal ITC

結合親和性、溶液中の分子反応の熱力学

.dsc

示差走査熱型カロリメトリー

Microcal DSC

大きな分子の変性(アンフォールド)、高分子の安定性

GCI

グレーティング結合干渉法

Creoptix WAVEsystem

リアルタイムの結合反応速度と親和性、流体工学によるラベルフリー

IMG

全自動画像解析

モフォロギ 4

粒子の画像処理、形状、サイズの自動測定

MDRS

Morphologically-Directed Raman Spectroscopy

モフォロギ4-ID

粒子の画像処理、形状、サイズの自動測定、化学的同定、汚染物質の検出

LD

レーザ回折

マスターサイザー

スプレーテック

インシテック

Parsum

粒子サイズ、粒度分布

NTA

ナノ粒子トラッキング(軌跡)解析

ナノサイト

粒子サイズ、粒度分布、濃度

SEC または GPC

サイズ排除クロマトグラフィー/

ゲル浸透クロマトグラフィー(GPC)

OmniSEC

分子サイズ、分子量、オリゴマー状態、ポリマーまたはタンパク質のサイズ、分子構造

SPE

融合によるサンプル調製

Le Neo

LeDoser

Eagon 2

The OxAdvanced

M4

rFusion

XRF用溶融ビーズ試料の調製、ICP用過酸化物溶液の調製、ビーズ作製用のフラックス計量

UV/Vis/NIR/ SWIR

紫外線/可視/近赤外線/短波赤外線分光分析

LabSpec

FieldSpec

TerraSpec

QualitySpec

材料識別と分析、水分、鉱物、炭素の含有量。航空および衛星分光分析技術の地上検証。

PFTNA

パルス高速熱中性子活性化

CNA

インライン元素分析

XRD-C

X線回折 (結晶構造解析)

Aeris

Empyrean

分子結晶構造の精製、

結晶相の同定と定量化、結晶対非結晶比、結晶子径分析

XRD-M

X線回折 (ミクロ構造)

Empyrean

X’Pert3 MRD(XL)

残留応力、テクスチャ

XRD-CT

コンピュータ断層撮影法による X線吸収画像処理

Empyrean

固体、気孔率、密度の3D画像処理

SAXS

小角X線散乱法

Empyrean

ナノ粒子、サイズ、形状、構造

GISAXS

斜入射小角X線散乱法

Empyrean

ナノ構造の薄膜と表面

HR-XRD

高解像度X線回折

Empyrean

X’Pert3 MRD(XL)

薄膜およびエピタキシャル多層、組成、ひずみ、厚さ、品質

XRR

X線反射率法

Empyrean

X’Pert3 MRD(XL)

薄膜と表面、膜厚、表面、界面粗さ

XRF

蛍光X線

Epsilon

Zetium

Axios FAST

2830 ZT

元素組成、元素濃度、微量元素、汚染物質の検出